未來已來,高精度檢測怎么少得了高精度數(shù)顯高度計
未來已來,高精度檢測怎么少得了高精度數(shù)顯高度計
20世紀(jì)60年代為了適應(yīng)核能、大規(guī)模集成電路、激光和航天等尖端技術(shù)的需要而發(fā)展起來精度極高的加工技術(shù)。當(dāng)前,精密加工已成為衡量一個國家或者企業(yè)制造業(yè)水平高低的重要指標(biāo)之一。 例如:飛行器的陀螺馬達,軸承零部件公差要控制到0.1μm甚至0.01μm。
3C電子產(chǎn)品中的蘋果手機,手機殼的尺寸公差要求不超過20μm,小配件公差則是2μm。
新莽時期我國發(fā)明了游標(biāo)卡尺,比十七世紀(jì)的歐洲發(fā)明早了1600年。后來出現(xiàn)的千分尺和千分表,精度能夠達到0.001mm(1μm),人類對尺寸的度量已經(jīng)很精細(xì)。但是這類量具測量效率低、誤差大、可以測量的工件尺寸有限。
隨著現(xiàn)代加工的發(fā)展,對于精度要求越來越高,如何做好品控,提高產(chǎn)品合格率,提升效率成為頭等問題。而這個問題的第一步則是如何確保測量的準(zhǔn)確和精度。東野儀器代理的Mikrometry數(shù)顯高度計采用了高精度傳感器和精密導(dǎo)軌,精度穩(wěn)定、手感順暢,快速測量時不跳數(shù);顯示器采用綠色高亮度數(shù)碼管,顯示清晰,色彩柔和,長時間使用操作者不易疲勞。臺架采用陶瓷作為測量基準(zhǔn)臺,精密耐用。
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