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00004”梅爾MEYER針規(guī)
- MEYER梅爾針規(guī)X等級，用作校準測量設(shè)備和檢查比較器、千分尺和卡尺的線性度的針規(guī)，可以檢測千分尺和卡尺尖端的不均勻磨損。每一個針規(guī)都經(jīng)過熱處理并硬化至 60-62 Rockwell C。
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MEYER梅爾針規(guī)是用作校準測量設(shè)備和檢查比較器、千分尺和卡尺的線性度的針規(guī)。這些“第十步”針規(guī)組具有無限的應(yīng)用，例如質(zhì)量控制檢查、原型工作和生產(chǎn)布局。檢查員從一系列銷釘中進行選擇，以找出孔或槽的尺寸。這些圓形母模模擬圓柱形零件，與扁平塊不同，它可以檢測千分尺和卡尺尖端的不均勻磨損。與具有大接觸面積的平面量塊相比，接觸面的細“線”能更好地檢測到不均勻的表面磨損。
MEYER針規(guī)套裝X等級 特征
每套包含25個 X 級公差 (.00004”) 量規(guī)銷?？勺匪葜?NIST。
兩種公差可供選擇：加 (+.00004”) 或減 (-.00004”)
套件包括一個中心標稱尺寸、12 個以 0.0001 英寸為步長的較大量規(guī)和 12 個以 0.0001 英寸為步長的較小量規(guī)。
每個量具都經(jīng)過檢查，并具有 2 個或更好的微精加工。
熱處理并硬化至 60-62 Rockwell C
所有超過 0.060” 或 1. 51mm 的針規(guī)都用激光標記公差尺寸方向和序列號，以便追溯。
| 型號 | 英制規(guī)格 | 公制規(guī)格 |
| MG1-25 | 0122" to .0609" | 0.28mm to 1.54mm |
| MG2-25 | 0.0610" to .2509" | 1.55mm to 6.37mm |
| MG3-25 | 0.2510" to .5009" | 6.38mm to 12.72mm |
| MG4-25 | 0.5010" to .7499" | 12.73mm to 19.04mm |
| MG5-25 | 0.7500" to .8129" | 19.05mm to 20.64mm |
1960544536 訂購：00004”梅爾MEYER針規(guī)
